X-ray Scattering from Semiconductors

Name: X-ray Scattering from Semiconductors
Brand: Imperial College Press
SKU: 9781860941597
Price: 494.35 PLN
Availability: InStock

Autor: Paul F. Fewster

Język:

Oprawa: Twarda

Wydawca: Imperial College Press

Dostępność: 50 % szansa

Przeszukamy cały świat

494.35 zł

X-ray scattering is used extensively to provide detailed structural information about materials. Sem...

Informacje o książce

Autor

Paul F. Fewster

Język

Angielski

Oprawa

Książka - Twarda

Data wydania

2000

strony

304

EAN

9781860941597

Enbook ID

05121559

Wydawca

Imperial College Press

Waga

567

Wymiary

160 x 224 x 25

Pełny opis

X-ray scattering is used extensively to provide detailed structural information about materials. Semiconductors have benefited from X-ray scattering techniques as an essential feedback method for crystal growth, including compositional and thickness determination of thin layers. The methods have been developed to reveal very detailed structural information concerning material quality, interface structure, relaxation, defects, surface damage, and more. This text provides a description of the techniques involved in obtaining that information, including X-ray diffractometers and their associated instrument functions, data collection methods, and the simulation of the diffraction patterns observed. Also presented are examples and procedures for interpreting the data to build a picture of the sample, much of which is common to materials other than semiconductors.

Możesz być zainteresowany

Klienci, którzy kupili tę książkę, kupili również

Najczęściej wyszukiwane

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Najczęściej wyszukiwane

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

X-ray Scattering from Semiconductors

Informacje o książce

Pełny opis

Możesz być zainteresowany

Klienci, którzy kupili tę książkę, kupili również