X-Ray Diffraction by Disordered Lamellar Structures

Name: X-Ray Diffraction by Disordered Lamellar Structures
Brand: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG
SKU: 9783642748042
Price: 423.49 PLN
Availability: InStock

Theory and Applications to Microdivided Silicates and Carbons

Autor: Victor A. Drits, Cyril Tchoubar

Język:

Oprawa: Miękka

Wydawca: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG

Dostępność: Dostępna u dostawcy

Wysyłamy za 5-8 dni

423.49 zł

New methods for the determination of the nature, proportion, and distribution of structural defects...

Informacje o książce

Autor

Victor A. Drits, Cyril Tchoubar

Język

Angielski

Oprawa

Książka - Miękka

Data wydania

2011

strony

371

EAN

9783642748042

ISBN

364274804X

Enbook ID

06920973

Wydawca

Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG

Waga

593

Wymiary

155 x 235 x 22

Pełny opis

New methods for the determination of the nature, proportion, and distribution of structural defects in microcrystallized lamellar systems are of utmost importance not only to experimentalists but also to theoreticians. Mathematical formalism - indispensable for such analyses - is well-illustrated by various examples, allowing this method to be easily adopted and even to be applied to other solids with lamellar or pseudo-lamellar structures.

Możesz być zainteresowany

Klienci, którzy kupili tę książkę, kupili również

Najczęściej wyszukiwane

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Najczęściej wyszukiwane

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

X-Ray Diffraction by Disordered Lamellar Structures

Theory and Applications to Microdivided Silicates and Carbons

Informacje o książce

Pełny opis

Możesz być zainteresowany

Klienci, którzy kupili tę książkę, kupili również