Książka VLSI Design and Test Ambika Prasad Shah

VLSI Design and Test

26th International Symposium, VDAT 2022, Jammu, India, July 17-19, 2022, Revised Selected Papers

Język: Angielski
Oprawa: Miękka
Wydawca: Springer, Berlin
Dostępność: Dostępna u dostawcy
Wysyłamy za 5-8 dni
427.08
This book constitutes the proceedings of the 26th International Symposium on VLSI Design and Test, V...

Informacje o książce

Język
Angielski
Oprawa
Książka - Miękka
Data wydania
2022
strony
596
EAN
9783031215131
Enbook ID
41908424
Waga
847
Wymiary
155 x 235 x 33

Pełny opis

This book constitutes the proceedings of the 26th International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2022, which took place in Jammu, India, in July 2022.The 32 regular papers and 16 short papers presented in this volume were carefully reviewed and selected from 220 submissions. They were organized in topical sections as follows: Devices and Technology; Sensors; Analog/Mixed Signal; Digital Design; Emerging Technologies and Memory; System Design.

Możesz być zainteresowany

Endofullerenes

T. Akasaka
639.94

Logos

Don Pierce
92.87

False-Positive HIV Test Results

Hugues Fidele Batsielilit
105.24

Wise Wealth

Joachim Schwass
242.50

Portugal in the European Union

Laura C. Ferreira-Pereira
320.46

Klienci, którzy kupili tę książkę, kupili również

Rue du temps

Les Ogres De Barback
82.56
79.32
93.36

Intuition

Alexandra Sorgenicht
67.34

Vzdor

Tracy Wolffová
97.88