VLSI Design and Test

21st International Symposium, VDAT 2017, Roorkee, India, June 29 - July 2, 2017, Revised Selected Papers

Autor: Brajesh Kumar Kaushik, Sudeb Dasgupta, Virendra Singh

Język:

Oprawa: Miękka

Wydawca: Springer Verlag, Singapore

Dostępność: Dostępna u dostawcy

Wysyłamy za 5-8 dni

428.07 zł

This book constitutes the refereed proceedings of the 21st International Symposium on VLSI Design an...

Informacje o książce

Autor

Brajesh Kumar Kaushik, Sudeb Dasgupta, Virendra Singh

Język

Angielski

Oprawa

Książka - Miękka

Data wydania

2017

strony

815

EAN

9789811074691

ISBN

9811074690

Enbook ID

18381771

Wydawca

Springer Verlag, Singapore

Waga

1264

Wymiary

155 x 235 x 50

Pełny opis

This book constitutes the refereed proceedings of the 21st International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2017, held in Roorkee, India, in June/July 2017. The 48 full papers presented together with 27 short papers were carefully reviewed and selected from 246 submissions. The papers were organized in topical sections named: digital design; analog/mixed signal; VLSI testing; devices and technology; VLSI architectures; emerging technologies and memory; system design; low power design and test; RF circuits; architecture and CAD; and design verification.

Możesz być zainteresowany

Klienci, którzy kupili tę książkę, kupili również

Najczęściej wyszukiwane

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Najczęściej wyszukiwane

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

VLSI Design and Test

21st International Symposium, VDAT 2017, Roorkee, India, June 29 - July 2, 2017, Revised Selected Papers

Informacje o książce

Pełny opis

Możesz być zainteresowany

Klienci, którzy kupili tę książkę, kupili również