Książka VLSI Design and Test Singh Manoj Gaur

VLSI Design and Test

17th International Symposium, VDAT 2013, Jaipur, India, July 27-30, 2013, Proceedings

Język: Angielski
Oprawa: Miękka
Dostępność: Dostępna u dostawcy
Wysyłamy za 5-8 dni
216.60
This book constitutes the refereed proceedings of the 17th International Symposium on VLSI Design an...

Informacje o książce

Język
Angielski
Oprawa
Książka - Miękka
Data wydania
2013
strony
388
EAN
9783642420238
ISBN
3642420230
Enbook ID
02198670
Waga
6088
Wymiary
155 x 235 x 22

Pełny opis

This book constitutes the refereed proceedings of the 17th International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2013, held in Jaipur, India, in July 2013. The 44 papers presented were carefully reviewed and selected from 162 submissions. The papers discuss the frontiers of design and test of VLSI components, circuits and systems. They are organized in topical sections on VLSI design, testing and verification, embedded systems, emerging technology.

Możesz być zainteresowany

Fed Up

LIEBERMAN DANIEL E
112.46

The Gravewood

ANDREW KELLY
42.28

Roman Panorama, a Background for To-day

H. (Humfrey) 1891- Grose Hodge
144.53

Viking Age

Caroline Ahlstrom Arcini
137.58

Fresh Spring of Sudoku 16 x 16 Round 5

Zahlenspiel Stella Zahlenspiel
72.26

Blood Transfusion

Muhammad Saied Saif
208.95

Master-Knot

Alice Birkhead
144.53
647.03
112.26

Nazi Symbiosis

Sheila Faith Weiss
461.40

Art of Social Critique

Shawn Chandler Bingham
790.68

Klienci, którzy kupili tę książkę, kupili również

Leben mit Wagner

Joachim Kaiser
38.31

Bataver

Felix Dahn
93.70

Dorfpfarrer

Honoré de Balzac
112.26
95.98