Książka Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generation Kwang-Ting (Tim) Cheng

Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generation

Język: Angielski
Oprawa: Twarda
Wydawca: Springer
Dostępność: Dostępna u dostawcy
Wysyłamy za 10-13 dni
427.24

Informacje o książce

Język
Angielski
Oprawa
Książka - Twarda
strony
148
EAN
9780792390251
ISBN
0792390253
Enbook ID
01397961
Wydawca
Waga
910
Wymiary
156 x 234 x 14

Pełny opis

Możesz być zainteresowany

867.35
36.13

How to Teach Grammar

Scott Thornbury
248.87
65.50
166.08
178.26

Term-Structure Models

Damir Filipovic
334.42

Depicting the Veil

Robin Lee Riley
351.31
224.22

Algorithmic Aspects of Graph Connectivity

Hiroshi NagamochiToshihide Ibaraki
516.22
209.68
489.11

Complex Organizations

Professor Charles Perrow
139.16

Klienci, którzy kupili tę książkę, kupili również

Kindgerechter Schulanfang

Julia von Risswick
177.57

Grundlagen und Methoden

Hanns M. Trautner
117.75
37.51
92.71