Total-Reflection X-ray Fluorescence Analysis and Related Methods 2e
Autor:
Reinhold Klockenkamper
Dostępność:
Dostępna u dostawcy w małych ilościach
Wysyłamy za 11-15 dni
633.78
zł
Explores the uses of TXRF in micro- and trace analysis, and in surface- and near-surface-layer analy...