Testing Static Random Access Memories

Name: Testing Static Random Access Memories
Brand: Springer, Berlin
SKU: 9781441954305
Price: 422.9 PLN
Availability: InStock

Defects, Fault Models and Test Patterns

Autor: Said Hamdioui

Język:

Oprawa: Miękka

Wydawca: Springer, Berlin

Dostępność: Dostępna u dostawcy

Wysyłamy za 5-8 dni

422.90 zł

Testing Static Random Access Memories covers testing of one of the important semiconductor memories...

Informacje o książce

Autor

Said Hamdioui

Język

Angielski

Oprawa

Książka - Miękka

Data wydania

2010

strony

221

EAN

9781441954305

ISBN

1441954309

Enbook ID

01423708

Wydawca

Springer, Berlin

Waga

379

Wymiary

160 x 240 x 13

Pełny opis

Testing Static Random Access Memories covers testing of one of the important semiconductor memories types; it addresses testing of static random access memories (SRAMs), both single-port and multi-port. It contributes to the technical acknowledge needed by those involved in memory testing, engineers and researchers. The book begins with outlining the most popular SRAMs architectures. Then, the description of realistic fault models, based on defect injection and SPICE simulation, are introduced. Thereafter, high quality and low cost test patterns, as well as test strategies for single-port, two-port and any p-port SRAMs are presented, together with some preliminary test results showing the importance of the new tests in reducing DPM level. The impact of the port restrictions (e.g., read-only ports) on the fault models, tests, and test strategies is also discussed. Features: -Fault primitive based analysis of memory faults, -A complete framework of and classification memory faults, -A systematic way to develop optimal and high quality memory test algorithms, -A systematic way to develop test patterns for any multi-port SRAM, -Challenges and trends in embedded memory testing.

Możesz być zainteresowany

Klienci, którzy kupili tę książkę, kupili również

Najczęściej wyszukiwane

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Najczęściej wyszukiwane

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Testing Static Random Access Memories

Defects, Fault Models and Test Patterns

Informacje o książce

Pełny opis

Możesz być zainteresowany

Klienci, którzy kupili tę książkę, kupili również