Test and Diagnosis for Small-Delay Defects

Name: Test and Diagnosis for Small-Delay Defects
Brand: Springer-Verlag New York Inc.
SKU: 9781441982964
Price: 419.04 PLN
Availability: InStock

Autor: Mohammad Tehranipoor, Ke Peng, Krishnendu Chakrabarty

Język:

Oprawa: Twarda

Wydawca: Springer-Verlag New York Inc.

Dostępność: Dostępna u dostawcy

Wysyłamy za 10-13 dni

419.04 zł

This book will introduce new techniques for detecting and diagnosing small-delay defects in integrat...

Informacje o książce

Autor

Mohammad Tehranipoor, Ke Peng, Krishnendu Chakrabarty

Język

Angielski

Oprawa

Książka - Twarda

Data wydania

2011

strony

212

EAN

9781441982964

ISBN

1441982965

Enbook ID

01424413

Wydawca

Springer-Verlag New York Inc.

Waga

518

Wymiary

155 x 235 x 17

Pełny opis

This book will introduce new techniques for detecting and diagnosing small-delay defects in integrated circuits. Although this sort of timing defect is commonly found in integrated circuits manufactured with nanometer technology, this will be the first book to introduce effective and scalable methodologies for screening and diagnosing small-delay defects, including important parameters such as process variations, crosstalk, and power supply noise.

Możesz być zainteresowany

Klienci, którzy kupili tę książkę, kupili również

Najczęściej wyszukiwane

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Najczęściej wyszukiwane

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Test and Diagnosis for Small-Delay Defects

Informacje o książce

Pełny opis

Możesz być zainteresowany

Klienci, którzy kupili tę książkę, kupili również