Systems, Models and Measures

Name: Systems, Models and Measures
Brand: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG
SKU: 9783540197539
Price: 214.53 PLN
Availability: InStock

Autor: Agnes Kaposi, Margaret Myers

Język:

Oprawa: Miękka

Wydawca: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG

Dostępność: Dostępna u dostawcy

Wysyłamy za 8-11 dni

214.53 zł

Systems, Models and Measures seeks to bridge the gap between the 'classical' and the newer technolog...

Informacje o książce

Autor

Agnes Kaposi, Margaret Myers

Język

Angielski

Oprawa

Książka - Miękka

Data wydania

1993

strony

335

EAN

9783540197539

ISBN

3540197532

Enbook ID

05273666

Wydawca

Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG

Waga

600

Wymiary

155 x 235 x 20

Pełny opis

Systems, Models and Measures seeks to bridge the gap between the 'classical' and the newer technologies by constructing a systematic measurement framework for both. The authors use their experience as consultants in systems, software and quality engineering to take the subject from concept and theory, via strategy and procedure, to tools and applications. The book clarifies the key notions of system, model, measurement, product, process, specification and design. Practical examples demonstrate the 'architecture' of measurement schemes, extending them to object-oriented and subjective measurement. A detailed case study provides a measurement strategy for formal specifications, including Prolog, Z and VDM. The reader will be able to formulate problems in measurable terms, appraise and compare formal specifications, assess and enhance existing measurement practices, and devise measurement schemes for describing objective characteristics and expressing value judgements.

Możesz być zainteresowany

Klienci, którzy kupili tę książkę, kupili również

Najczęściej wyszukiwane

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Najczęściej wyszukiwane

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Systems, Models and Measures

Informacje o książce

Pełny opis

Możesz być zainteresowany

Klienci, którzy kupili tę książkę, kupili również