Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition

Joint IAPR International Workshop, S+SSPR 2018, Beijing, China, August 17-19, 2018, Proceedings

Autor: Xiao Bai, Edwin R. Hancock, Tin Kam Ho, Richard C. Wilson, Battista Biggio, Antonio Robles-Kelly

Język:

Oprawa: Miękka

Wydawca: Springer International Publishing AG

Dostępność: Dostępna u dostawcy

Wysyłamy za 5-8 dni

212.42 zł

This book constitutes the proceedings of the Joint IAPR International Workshop on Structural, Syntac...

Informacje o książce

Autor

Xiao Bai, Edwin R. Hancock, Tin Kam Ho, Richard C. Wilson, Battista Biggio, Antonio Robles-Kelly

Język

Angielski

Oprawa

Książka - Miękka

Data wydania

2018

strony

524

EAN

9783319977843

ISBN

3319977849

Enbook ID

19762418

Wydawca

Springer International Publishing AG

Waga

819

Wymiary

155 x 235 x 30

Pełny opis

This book constitutes the proceedings of the Joint IAPR International Workshop on Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition, S+SSPR 2018, held in Beijing, China, in August 2018. The 49 papers presented in this volume were carefully reviewed and selected from 75 submissions. They were organized in topical sections named: classification and clustering; deep learning and neurla networks; dissimilarity representations and Gaussian processes; semi and fully supervised learning methods; spatio-temporal pattern recognition and shape analysis; structural matching; multimedia analysis and understanding; and graph-theoretic methods.

Możesz być zainteresowany

Klienci, którzy kupili tę książkę, kupili również

Najczęściej wyszukiwane

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Najczęściej wyszukiwane

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition

Joint IAPR International Workshop, S+SSPR 2018, Beijing, China, August 17-19, 2018, Proceedings

Informacje o książce

Pełny opis

Możesz być zainteresowany

Klienci, którzy kupili tę książkę, kupili również