SOC (System-on-a-Chip) Testing for Plug and Play Test Automation

Name: SOC (System-on-a-Chip) Testing for Plug and Play Test Automation
Brand: Springer-Verlag New York Inc.
SKU: 9781441953070
Price: 433.29 PLN
Availability: InStock

Autor: Krishnendu Chakrabarty

Język:

Oprawa: Miękka

Wydawca: Springer-Verlag New York Inc.

Dostępność: Dostępna u dostawcy

Wysyłamy za 5-8 dni

433.29 zł

System-on-a-Chip (SOC) integrated circuits composed of embedded cores are now commonplace. Neverthel...

Informacje o książce

Autor

Krishnendu Chakrabarty

Język

Angielski

Oprawa

Książka - Miękka

Data wydania

2011

strony

200

EAN

9781441953070

ISBN

1441953078

Enbook ID

01423614

Wydawca

Springer-Verlag New York Inc.

Waga

411

Wymiary

178 x 254 x 12

Pełny opis

System-on-a-Chip (SOC) integrated circuits composed of embedded cores are now commonplace. Nevertheless, there remain several roadblocks to rapid and efficient system integration. Test development is seen as a major bottleneck in SOC design and manufacturing capabilities. Testing SOCs is especially challenging in the absence of standardized test structures, test automation tools, and test protocols. In addition, long interconnects, high density, and high-speed designs lead to new types of faults involving crosstalk and signal integrity. §SOC (System-on-a-Chip) Testing for Plug and Play Test Automation is an edited work containing thirteen contributions that address various aspects of SOC testing. §SOC (System-on-a-Chip) Testing for Plug and Play Test Automation is a valuable reference for researchers and students interested in various aspects of SOC testing.

Możesz być zainteresowany

Klienci, którzy kupili tę książkę, kupili również

Najczęściej wyszukiwane

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Najczęściej wyszukiwane

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

SOC (System-on-a-Chip) Testing for Plug and Play Test Automation

Informacje o książce

Pełny opis

Możesz być zainteresowany

Klienci, którzy kupili tę książkę, kupili również