Książka Semiconductor Characterization Techniques

Semiconductor Characterization Techniques

Język: Angielski
Oprawa: Miękka
Wydawca: OmniScriptum
Dostępność: Dostępna u dostawcy
Wysyłamy za 8-11 dni
497.28

Informacje o książce

Język
Angielski
Oprawa
Książka - Miękka
Data wydania
2026
strony
72
EAN
9786138759232
ISBN
6138759230
Enbook ID
52733908
Wydawca
Waga
125
Wymiary
150 x 220 x 5

Pełny opis