Scanning Probe Microscopy

Name: Scanning Probe Microscopy
Brand: In Tech
SKU: 9789535105763
Price: 471.37 PLN
Availability: InStock

Physical Property Characterization at Nanoscale

Autor: Vijay Nalladega

Język:

Oprawa: Twarda

Wydawca: In Tech

Dostępność: Dostępna u dostawcy

Wysyłamy za 10-13 dni

471.37 zł

Scanning probe microscopy (SPM) is one of the key enabling tools for the advancement for nanotechnol...

Informacje o książce

Autor

Vijay Nalladega

Język

Angielski

Oprawa

Książka - Twarda

Data wydania

2012

strony

258

EAN

9789535105763

ISBN

9535105760

Enbook ID

24120415

Wydawca

In Tech

Waga

612

Wymiary

170 x 244 x 16

Pełny opis

Scanning probe microscopy (SPM) is one of the key enabling tools for the advancement for nanotechnology with applications in many interdisciplinary research areas. This book presents selected original research works on the application of scanning probe microscopy techniques for the characterization of physical properties of different materials at the nanoscale. The topics in the book range from surface morphology analysis of thin film structures, oxide thin layers and superconducting structures, novel scanning probe microscopy techniques for characterization of mechanical and electrical properties, evaluation of mechanical and tribological properties of hybrid coatings and thin films. The variety of topics chosen for the book underlines the strong interdisciplinary nature of the research work in the field of scanning probe microscopy.

Możesz być zainteresowany

Klienci, którzy kupili tę książkę, kupili również

Najczęściej wyszukiwane

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Najczęściej wyszukiwane

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Scanning Probe Microscopy

Physical Property Characterization at Nanoscale

Informacje o książce

Pełny opis

Możesz być zainteresowany

Klienci, którzy kupili tę książkę, kupili również