Scanning Probe Microscopy

Name: Scanning Probe Microscopy
Brand: Springer-Verlag New York Inc.
SKU: 9781493950362
Price: 1278.82 PLN
Availability: InStock

Electrical and Electromechanical Phenomena at the Nanoscale

Autor: Sergei V. Kalinin, Alexei Gruverman

Język:

Oprawa: Miękka

Wydawca: Springer-Verlag New York Inc.

Dostępność: Dostępna u dostawcy

Wysyłamy za 5-8 dni

1 278.82 zł

This volume will be devoted to the technical aspects of electrical and electromechanical SPM probes...

Informacje o książce

Autor

Sergei V. Kalinin, Alexei Gruverman

Język

Angielski

Oprawa

Książka - Miękka

Data wydania

2016

strony

980

EAN

9781493950362

ISBN

1493950363

Enbook ID

15178669

Wydawca

Springer-Verlag New York Inc.

Waga

1578

Wymiary

155 x 235 x 56

Pełny opis

This volume will be devoted to the technical aspects of electrical and electromechanical SPM probes and SPM imaging on the limits of resolution, thus providing technical introduction into the field. This volume will also address the fundamental physical phenomena underpinning the imaging mechanism of SPMs.

Możesz być zainteresowany

Klienci, którzy kupili tę książkę, kupili również

Najczęściej wyszukiwane

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Najczęściej wyszukiwane

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Scanning Probe Microscopy

Electrical and Electromechanical Phenomena at the Nanoscale

Informacje o książce

Pełny opis

Możesz być zainteresowany

Klienci, którzy kupili tę książkę, kupili również