Scanning Electron Microscopy

Name: Scanning Electron Microscopy
Brand: NY RESEARCH PRESS
SKU: 9781632384065
Price: 521.43 PLN
Availability: InStock

Autor: Lisa Page

Język:

Oprawa: Twarda

Wydawca: NY RESEARCH PRESS

Dostępność: 50 % szansa

Przeszukamy cały świat

521.43 zł

Fine focused electron and ion beams constitute(s) an inevitable part of methods and instruments empl...

Informacje o książce

Autor

Lisa Page

Język

Angielski

Oprawa

Książka - Twarda

Data wydania

2015

strony

292

EAN

9781632384065

ISBN

163238406X

Enbook ID

12434612

Wydawca

NY RESEARCH PRESS

Waga

572

Wymiary

236 x 162 x 23

Pełny opis

Fine focused electron and ion beams constitute(s) an inevitable part of methods and instruments employed in various science fields. SEMs are well instrumented and supplemented with advanced techniques and methods and thereby present endless possibilities in the areas of quantitative measurement of object topologies, surface imaging, performing elemental analysis and local electrophysical characteristics of semiconductor structures. Creation of micro and nanostructures involves extensive use of fine focused e-beam. This book focuses on various issues concerned with scanning electron microscopy, covering both theoretical and practical aspects. Numerous topics are organized under two sections, "Material Science" and "Nanostructured Materials for Electronic Industry". This book includes contributions by renowned researchers and experts in this field.

Możesz być zainteresowany

Klienci, którzy kupili tę książkę, kupili również

Najczęściej wyszukiwane

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Najczęściej wyszukiwane

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Scanning Electron Microscopy

Informacje o książce

Pełny opis

Możesz być zainteresowany

Klienci, którzy kupili tę książkę, kupili również