Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

Name: Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Brand: Springer-Verlag New York Inc.
SKU: 9781493982691
Price: 416.46 PLN
Availability: InStock

Autor: Joseph I. Goldstein, Dale E. Newbury, Joseph R. Michael, Nicholas W.M. Ritchie, John Henry J. Scott, David C. Joy

Język:

Oprawa: Miękka

Wydawca: Springer-Verlag New York Inc.

Dostępność: Dostępna u dostawcy

Wysyłamy za 8-11 dni

416.46 zł

This thoroughly revised and updated Fourth Edition of a time-honored text provides the reader with a...

Informacje o książce

Autor

Joseph I. Goldstein, Dale E. Newbury, Joseph R. Michael, Nicholas W.M. Ritchie, John Henry J. Scott, David C. Joy

Język

Angielski

Oprawa

Książka - Miękka

Data wydania

2018

strony

550

EAN

9781493982691

ISBN

9781493982691

Enbook ID

22289975

Wydawca

Springer-Verlag New York Inc.

Waga

1498

Wymiary

277 x 209 x 33

Pełny opis

This thoroughly revised and updated Fourth Edition of a time-honored text provides the reader with a comprehensive introduction to the field of scanning electron microscopy (SEM), energy dispersive X-ray spectrometry (EDS) for elemental microanalysis, elec

Możesz być zainteresowany

Klienci, którzy kupili tę książkę, kupili również

Najczęściej wyszukiwane

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Najczęściej wyszukiwane

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

Informacje o książce

Pełny opis

Możesz być zainteresowany

Klienci, którzy kupili tę książkę, kupili również