Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis

Name: Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis
Brand: Cambridge University Press
SKU: 9780521482660
Price: 700.9 PLN
Availability: InStock

Autor: Zhong Lin Wang

Język:

Oprawa: Twarda

Wydawca: Cambridge University Press

Dostępność: Dostępna u dostawcy

Wysyłamy za 9-15 dni

700.90 zł

In this book the theories, techniques and applications of reflection electron microscopy (REM), refl...

Informacje o książce

Autor

Zhong Lin Wang

Język

Angielski

Oprawa

Książka - Twarda

Data wydania

1996

strony

458

EAN

9780521482660

ISBN

0521482666

Enbook ID

02032669

Wydawca

Cambridge University Press

Waga

1097

Wymiary

170 x 244 x 25

Pełny opis

In this book the theories, techniques and applications of reflection electron microscopy (REM), reflection high-energy electron diffraction (RHEED) and reflection electron energy-loss spectroscopy (REELS) are comprehensively reviewed for the first time. The book is divided into three parts: diffraction, imaging and spectroscopy. The text is written to combine basic techniques with special applications, theories with experiments, and the basic physics with materials science, so that a full picture of RHEED and REM emerges. An entirely self-contained study, the book contains much invaluable reference material, including FORTRAN source codes for calculating crystal structures data and electron energy loss spectra in different scattering geometries. This and many other features make the book an important and timely addition to the materials science literature.

Możesz być zainteresowany

Klienci, którzy kupili tę książkę, kupili również

Najczęściej wyszukiwane

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Najczęściej wyszukiwane

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis

Informacje o książce

Pełny opis

Możesz być zainteresowany

Klienci, którzy kupili tę książkę, kupili również