Quantitative X-Ray Diffractometry

Name: Quantitative X-Ray Diffractometry
Brand: Springer-Verlag New York Inc.
SKU: 9781461395379
Price: 423.57 PLN
Availability: InStock

Autor: Giora Kimmel

Język:

Oprawa: Miękka

Wydawca: Springer-Verlag New York Inc.

Dostępność: Dostępna u dostawcy

Wysyłamy za 5-8 dni

423.57 zł

One of the most important techniques for determining the atomic structure of a material is X-ray dif...

Informacje o książce

Autor

Giora Kimmel

Język

Angielski

Oprawa

Książka - Miękka

Data wydania

2011

strony

372

EAN

9781461395379

ISBN

9781461395379

Enbook ID

06624110

Wydawca

Springer-Verlag New York Inc.

Waga

681

Wymiary

170 x 244 x 22

Pełny opis

One of the most important techniques for determining the atomic structure of a material is X-ray diffraction. One of the great problems of the technique, however, is the fact that only the intensity of the diffraction pattern can be measured, not its phase. The inverse problem, of determining the structure from the pattern thus contains ambiguities that must be resolved by other means. Quantitative X-ray analysis provides one way to resolve this phase problem: mixing the material in question with a material of known structure yields interferences that can be analyzed to yield the unknown phases. Invented in 1916, but little used at the time, the technique has seen a recent revival due to the development of extremely precise X-ray diffractometers coupled with powerful computers.

Możesz być zainteresowany

Klienci, którzy kupili tę książkę, kupili również

Najczęściej wyszukiwane

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Najczęściej wyszukiwane

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Quantitative X-Ray Diffractometry

Informacje o książce

Pełny opis

Możesz być zainteresowany

Klienci, którzy kupili tę książkę, kupili również