Noncontact Atomic Force Microscopy

Name: Noncontact Atomic Force Microscopy
Brand: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG
SKU: 9783642627729
Price: 847.66 PLN
Availability: InStock

Autor: E. Meyer, S. Morita, Roland Wiesendanger

Język:

Oprawa: Miękka

Wydawca: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG

Dostępność: Dostępna u dostawcy

Wysyłamy za 5-8 dni

847.66 zł

Since 1995, the noncontact atomic force microscope (NC-AFM) has achieved remarkable progress. Based...

Informacje o książce

Autor

E. Meyer, S. Morita, Roland Wiesendanger

Język

Angielski

Oprawa

Książka - Miękka

Data wydania

2012

strony

440

EAN

9783642627729

ISBN

9783642627729

Enbook ID

06617965

Wydawca

Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG

Waga

692

Wymiary

155 x 235 x 25

Pełny opis

Since 1995, the noncontact atomic force microscope (NC-AFM) has achieved remarkable progress. Based on nanomechanical methods, the NC-AFM detects the weak attractive force between the tip of a cantilever and a sample surface. This method has the following characteristics: it has true atomic resolution; it can measure atomic force interactions, i.e. it can be used in so-called atomic force spectroscopy (AFS); it can also be used to study insulators; and it can measure mechanical responses such as elastic deformation. This is the first book that deals with all of the emerging NC-AFM issues.

Możesz być zainteresowany

Klienci, którzy kupili tę książkę, kupili również

Najczęściej wyszukiwane

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Najczęściej wyszukiwane

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Noncontact Atomic Force Microscopy

Informacje o książce

Pełny opis

Możesz być zainteresowany

Klienci, którzy kupili tę książkę, kupili również