Nanometer Technology Designs

Name: Nanometer Technology Designs
Brand: Springer-Verlag New York Inc.
SKU: 9781441945594
Price: 423.49 PLN
Availability: InStock

High-Quality Delay Tests

Autor: Nisar Ahmed

Język:

Oprawa: Miękka

Wydawca: Springer-Verlag New York Inc.

Dostępność: Dostępna u dostawcy

Wysyłamy za 5-8 dni

423.49 zł

Traditional at-speed test methods cannot guarantee high quality test results as they face many new c...

Informacje o książce

Autor

Nisar Ahmed

Język

Angielski

Oprawa

Książka - Miękka

Data wydania

2011

strony

281

EAN

9781441945594

ISBN

1441945598

Enbook ID

01423022

Wydawca

Springer-Verlag New York Inc.

Waga

462

Wymiary

155 x 235 x 15

Pełny opis

Traditional at-speed test methods cannot guarantee high quality test results as they face many new challenges. Supply noise effects on chip performance, high test pattern volume, small delay defect test pattern generation, high cost of test implementation and application, and utilizing low-cost testers are among these challenges. This book discusses these challenges in detail and proposes new techniques and methodologies to improve the overall quality of the transition fault test.

Możesz być zainteresowany

Klienci, którzy kupili tę książkę, kupili również

Najczęściej wyszukiwane

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Najczęściej wyszukiwane

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Nanometer Technology Designs

High-Quality Delay Tests

Informacje o książce

Pełny opis

Możesz być zainteresowany

Klienci, którzy kupili tę książkę, kupili również