MOS Interface Physics, Process and Characterization

Name: MOS Interface Physics, Process and Characterization
Brand: Taylor & Francis Ltd
SKU: 9781032106281
Price: 296.12 PLN
Availability: InStock

Autor: Shengkai Wang, Xiaolei Wang

Język:

Oprawa: Miękka

Wydawca: Taylor & Francis Ltd

Dostępność: Dostępna u dostawcy

Wysyłamy za 9-15 dni

296.12 zł

The electronic device based on Metal Oxide Semiconductor (MOS) structure is the most important compo...

Informacje o książce

Autor

Shengkai Wang, Xiaolei Wang

Język

Angielski

Oprawa

Książka - Miękka

Data wydania

2024

strony

162

EAN

9781032106281

Enbook ID

44702474

Wydawca

Taylor & Francis Ltd

Waga

453

Wymiary

152 x 229

Pełny opis

The electronic device based on Metal Oxide Semiconductor (MOS) structure is the most important component of a large-scale integrated circuit and the key to achieving high performance devices. This book contains experimental examples focusing on MOS and will be a reference for academics and postgraduates in the field of microelectronics.

Możesz być zainteresowany

Klienci, którzy kupili tę książkę, kupili również

Najczęściej wyszukiwane

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Najczęściej wyszukiwane

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

MOS Interface Physics, Process and Characterization

Informacje o książce

Pełny opis

Możesz być zainteresowany

Klienci, którzy kupili tę książkę, kupili również