Ponad 4 miliony tytułów w języku angielskim i innych językach! Odkryj swoją nową historię już dziś!

Microelectronic Test Structures for CMOS Technology

Name: Microelectronic Test Structures for CMOS Technology
Brand: Springer-Verlag New York Inc.
SKU: 9781441993762
Price: 746.7 PLN
Availability: InStock

Autor: Manjul Bhushan, Mark B. Ketchen

Język:

Oprawa: Twarda

Wydawca: Springer-Verlag New York Inc.

Dostępność: Dostępna u dostawcy

Wysyłamy za 10-13 dni

746.70 zł

Test structures are becoming more important in the development of CMOS technologies. Covering the ba...

Informacje o książce

Autor

Manjul Bhushan, Mark B. Ketchen

Język

Angielski

Oprawa

Książka - Twarda

Data wydania

2011

strony

373

EAN

9781441993762

ISBN

1441993762

Enbook ID

01424507

Wydawca

Springer-Verlag New York Inc.

Waga

776

Wymiary

155 x 235 x 27

Pełny opis

Test structures are becoming more important in the development of CMOS technologies. Covering the basic concepts in test structure design for dedicated test vehicles, the book also examines high-speed characterization techniques for digital CMOS applications.