Materials Reliability Issues in Microelectronics: Volume 225

Name: Materials Reliability Issues in Microelectronics: Volume 225
Brand: Materials Research Society
SKU: 9781558991194
Price: 145.04 PLN
Availability: PreOrder

Autor: James R. LloydFrederick G. YostPaul S. Ho

Język:

Oprawa: Twarda

Wydawca: Materials Research Society

Dostępność: Dodruk

Termin nieznany

145.04 zł

With the increased complexity of modern integrated circuits, it is important that reliability proble...

Informacje o książce

Autor

James R. LloydFrederick G. YostPaul S. Ho

Język

Angielski

Oprawa

Książka - Twarda

Data wydania

1991

strony

382

EAN

9781558991194

ISBN

1558991190

Enbook ID

02059930

Wydawca

Materials Research Society

Waga

700

Wymiary

155 x 235 x 25

Pełny opis

With the increased complexity of modern integrated circuits, it is important that reliability problems be attacked properly with the appropriate tools. This volume recognizes that almost all reliability problems are materials problems, and helps to put 'reliabilty physics' on a firm scientific foundation. Topics include: electromigration; stress effects on reliability; stress and packaging; metallization; device, oxide and dielectric reliability; new investigative techniques; corrosion.

Możesz być zainteresowany

Klienci, którzy kupili tę książkę, kupili również

Najczęściej wyszukiwane

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Najczęściej wyszukiwane

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Materials Reliability Issues in Microelectronics: Volume 225

Informacje o książce

Pełny opis

Możesz być zainteresowany

Klienci, którzy kupili tę książkę, kupili również