Ponad 4 miliony tytułów w języku angielskim i innych językach! Odkryj swoją nową historię już dziś!

Materials Reliability in Microelectronics IV: Volume 338

Name: Materials Reliability in Microelectronics IV: Volume 338
Brand: Materials Research Society
SKU: 9781558992382
Price: 110.19 PLN
Availability: PreOrder

Autor: Peter BJohn C. CoburnWilliam F. FilterJohn E. Sanchez, Jr.

Język:

Oprawa: Twarda

Wydawca: Materials Research Society

Dostępność: Dodruk

Termin nieznany

110.19 zł

The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for research...

Informacje o książce

Autor

Peter BJohn C. CoburnWilliam F. FilterJohn E. Sanchez, Jr.

Język

Angielski

Oprawa

Książka - Twarda

Data wydania

1994

strony

629

EAN

9781558992382

ISBN

1558992383

Enbook ID

02060018

Wydawca

Materials Research Society

Waga

1045

Wymiary

160 x 231 x 38

Pełny opis

The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.

Najczęściej wyszukiwane

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Najczęściej wyszukiwane

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Materials Reliability in Microelectronics IV: Volume 338

Informacje o książce

Pełny opis

Możesz być zainteresowany

Klienci, którzy kupili tę książkę, kupili również