Książka Materials Reliability in Microelectronics III: Volume 309 Kenneth P. Rodbell

Materials Reliability in Microelectronics III: Volume 309

Język: Angielski
Oprawa: Miękka
Dostępność: Dostępna u dostawcy
Wysyłamy za 9-15 dni
157.22
The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for research...

Informacje o książce

Język
Angielski
Oprawa
Książka - Miękka
Data wydania
2014
strony
514
EAN
9781107409484
ISBN
1107409489
Enbook ID
02439136
Waga
68
Wymiary
152 x 229 x 26

Pełny opis

The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.

Możesz być zainteresowany

Nemesis at Potsdam

Alfred M. de Zayas
186.69

Nietzsche in Turin

Jurgen Kleist
35.12

1820

Malcolm Chase
392.13
375.15

Flight Path

Hannah Palmer
65.09

Klienci, którzy kupili tę książkę, kupili również

99.34

Griezmann

Cyril Collot
70.65
45.96

Lovec

Arne Dahl
80.41

La vida secreta de les pupes

MARIONA TOLOSA SISTERE
78.36
110.37