Lifetime Spectroscopy

Name: Lifetime Spectroscopy
Brand: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG
SKU: 9783540253037
Price: 1268.95 PLN
Availability: InStock

A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications

Autor: Stefan Rein

Język:

Oprawa: Twarda

Wydawca: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG

Dostępność: Dostępna u dostawcy

Wysyłamy za 10-13 dni

1 268.95 zł

Lifetime spectroscopy is one of the most sensitive diagnostic tools for the identification and analy...

Informacje o książce

Autor

Stefan Rein

Język

Angielski

Oprawa

Książka - Twarda

Data wydania

2005

strony

492

EAN

9783540253037

ISBN

3540253033

Enbook ID

01560453

Wydawca

Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG

Waga

950

Wymiary

241 x 166 x 37

Pełny opis

Lifetime spectroscopy is one of the most sensitive diagnostic tools for the identification and analysis of impurities in semiconductors. Since it is based on the recombination process, it provides insight into precisely those defects that are relevant to semiconductor devices such as solar cells. This book introduces a transparent modeling procedure that allows a detailed theoretical evaluation of the spectroscopic potential of the different lifetime spectroscopic techniques. The various theoretical predictions are verified experimentally with the context of a comprehensive study on different metal impurities. The quality and consistency of the spectroscopic results, as explained here, confirms the excellent performance of lifetime spectroscopy.

Możesz być zainteresowany

Klienci, którzy kupili tę książkę, kupili również

Najczęściej wyszukiwane

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Najczęściej wyszukiwane

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Lifetime Spectroscopy

A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications

Informacje o książce

Pełny opis

Możesz być zainteresowany

Klienci, którzy kupili tę książkę, kupili również