High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography

Name: High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography
Brand: Taylor & Francis Ltd
SKU: 9780850667585
Price: 1146.66 PLN
Availability: InStock

Autor: B. K. Tanner

Język:

Oprawa: Twarda

Wydawca: Taylor & Francis Ltd

Dostępność: Dostępna u dostawcy

Wysyłamy za 9-15 dni

1 146.66 zł

The application of electronic materials has created a demand for reliable techniques for examining t...

Informacje o książce

Autor

B. K. Tanner

Język

Angielski

Oprawa

Książka - Twarda

Data wydania

1998

strony

264

EAN

9780850667585

ISBN

9780850667585

Enbook ID

06695007

Wydawca

Taylor & Francis Ltd

Waga

656

Wymiary

178 x 263 x 20

Pełny opis

The application of electronic materials has created a demand for reliable techniques for examining these materials. This book looks at the area of x-ray diffraction and the modern techniques available for deployment in research. It provides the background for applying these techniques.

Możesz być zainteresowany

Klienci, którzy kupili tę książkę, kupili również

Najczęściej wyszukiwane

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Najczęściej wyszukiwane

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography

Informacje o książce

Pełny opis

Możesz być zainteresowany

Klienci, którzy kupili tę książkę, kupili również