High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability

Name: High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability
Brand: Springer-Verlag New York Inc.
SKU: 9781441999757
Price: 414.34 PLN
Availability: InStock

Autor: Stephan Eggersglüß, Rolf Drechsler

Język:

Oprawa: Twarda

Wydawca: Springer-Verlag New York Inc.

Dostępność: Dostępna u dostawcy

Wysyłamy za 10-13 dni

414.34 zł

This book provides an overview of automatic test pattern generation (ATPG) and introduces novel tech...

Informacje o książce

Autor

Stephan Eggersglüß, Rolf Drechsler

Język

Angielski

Oprawa

Książka - Twarda

Data wydania

2011

strony

193

EAN

9781441999757

ISBN

1441999752

Enbook ID

01424651

Wydawca

Springer-Verlag New York Inc.

Waga

488

Wymiary

155 x 235 x 15

Pełny opis

This book provides an overview of automatic test pattern generation (ATPG) and introduces novel techniques to complement classical ATPG, based on Boolean Satisfiability (SAT). It presents a fast and highly fault efficient SAT-based ATPG framework.

Możesz być zainteresowany

Klienci, którzy kupili tę książkę, kupili również

Najczęściej wyszukiwane

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Najczęściej wyszukiwane

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability

Informacje o książce

Pełny opis

Możesz być zainteresowany

Klienci, którzy kupili tę książkę, kupili również