Electron Beam Testing Technology

Name: Electron Beam Testing Technology
Brand: Springer-Verlag New York Inc.
SKU: 9781489915245
Price: 676.81 PLN
Availability: InStock

Autor: John T.L. Thong

Język:

Oprawa: Miękka

Wydawca: Springer-Verlag New York Inc.

Dostępność: Dostępna u dostawcy

Wysyłamy za 5-8 dni

676.81 zł

This is the first comprehensive volume on electron beam testing for integrated circuits. Including i...

Informacje o książce

Autor

John T.L. Thong

Język

Angielski

Oprawa

Książka - Miękka

Data wydania

2013

strony

462

EAN

9781489915245

ISBN

1489915249

Enbook ID

02254694

Wydawca

Springer-Verlag New York Inc.

Waga

905

Wymiary

178 x 254 x 26

Pełny opis

This is the first comprehensive volume on electron beam testing for integrated circuits. Including introductory material, a guide to fundamentals, and an implementational section, the work will serve as a complete reference for both experienced practitioners as well as those unfamiliar with the technology.

Możesz być zainteresowany

Klienci, którzy kupili tę książkę, kupili również

Najczęściej wyszukiwane

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Najczęściej wyszukiwane

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Electron Beam Testing Technology

Informacje o książce

Pełny opis

Możesz być zainteresowany

Klienci, którzy kupili tę książkę, kupili również