Ponad 4 miliony tytułów w języku angielskim i innych językach! Odkryj swoją nową historię już dziś!

Electron Beam-Specimen Interactions and Simulation Methods in Microscopy

Name: Electron Beam-Specimen Interactions and Simulation Methods in Microscopy
Brand: John Wiley & Sons Inc
SKU: 9781118456095
Price: 567.32 PLN
Availability: InStock

Autor: Budhika Mendis

Język:

Oprawa: Twarda

Wydawca: John Wiley & Sons Inc

Dostępność: 50 % szansa

Przeszukamy cały świat

567.32 zł

A detailed presentation of the physics of electron beam-specimen interactions Electron microscopy is...

Informacje o książce

Autor

Budhika Mendis

Język

Angielski

Oprawa

Książka - Twarda

Data wydania

2018

strony

296

EAN

9781118456095

ISBN

9781118456095

Enbook ID

18210542

Wydawca

John Wiley & Sons Inc

Waga

610

Wymiary

160 x 238 x 18

Pełny opis

A detailed presentation of the physics of electron beam-specimen interactions Electron microscopy is one of the most widely used characterisation techniques in materials science, physics, chemistry, and the life sciences.