Electromigration

Name: Electromigration
Brand: VDM Verlag Dr. Mueller E.K.
SKU: 9783639088137
Price: 211.55 PLN
Availability: InStock

Studied with the Optical Microscopy Imaging Method

Autor: Linghong Li

Język:

Oprawa: Miękka

Wydawca: VDM Verlag Dr. Mueller E.K.

Dostępność: Dostępna u dostawcy

Wysyłamy za 9-15 dni

211.55 zł

Electromigration is a microscopic phenomenon §involving electric field-induced diffusion, which is §...

Informacje o książce

Autor

Linghong Li

Język

Angielski

Oprawa

Książka - Miękka

Data wydania

2008

strony

EAN

9783639088137

ISBN

3639088131

Enbook ID

06817951

Wydawca

VDM Verlag Dr. Mueller E.K.

Waga

113

Wymiary

152 x 229 x 4

Pełny opis

Electromigration is a microscopic phenomenon §involving electric field-induced diffusion, which is §very relevant to damage in interconnections. A §common method for monitoring interconnection §degradation is through electrical resistance §measurements, which requires direct electrical §contact. It is desirable to develop non-contact §methods to monitor electromigration damage §formation. In this thesis, we propose a novel §Optical Microscopy Imaging Method (OMIM), and we §provide a theoretical description and experimental §results. OMIM not only provides a new method for §studying electromigration, but also provides a §useful method for studying other micro-devices and §materials in a non- contact mode.

Możesz być zainteresowany

Klienci, którzy kupili tę książkę, kupili również

Najczęściej wyszukiwane

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Najczęściej wyszukiwane

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Electromigration

Studied with the Optical Microscopy Imaging Method

Informacje o książce

Pełny opis

Możesz być zainteresowany

Klienci, którzy kupili tę książkę, kupili również