Electromigration and Electronic Device Degradation

Name: Electromigration and Electronic Device Degradation
Brand: John Wiley & Sons Inc
SKU: 9780471584896
Price: 988.05 PLN
Availability: InStock

Autor: Christou

Język:

Oprawa: Twarda

Wydawca: John Wiley & Sons Inc

Dostępność: Dostępna u dostawcy

Wysyłamy za 10-18 dni

988.05 zł

Electromigration is a mass transport effect in metals under high current densities, which causes the...

Informacje o książce

Autor

Christou

Język

Angielski

Oprawa

Książka - Twarda

Data wydania

1994

strony

344

EAN

9780471584896

ISBN

0471584894

Enbook ID

04892340

Wydawca

John Wiley & Sons Inc

Waga

656

Wymiary

164 x 239 x 25

Pełny opis

Electromigration is a mass transport effect in metals under high current densities, which causes the metal atoms to migrate away from a high current density point and leads to the failure of integrated circuits. It is therefore an important reliability issue. This study reviews the topic for both the silicon and GaAs technologies. It surveys the status of electromigration physics in microelectronics, and summarizes various rate controlling details, including an investigation of temperature dependence.

Możesz być zainteresowany

Klienci, którzy kupili tę książkę, kupili również

Najczęściej wyszukiwane

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Najczęściej wyszukiwane

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Electromigration and Electronic Device Degradation

Informacje o książce

Pełny opis

Możesz być zainteresowany

Klienci, którzy kupili tę książkę, kupili również