Design for Testability, Debug and Reliability

Name: Design for Testability, Debug and Reliability
Brand: Springer Nature Switzerland AG
SKU: 9783030692087
Price: 470.68 PLN
Availability: InStock

Autor: Sebastian Huhn

Język:

Oprawa: Twarda

Wydawca: Springer Nature Switzerland AG

Dostępność: Dostępna u dostawcy

Wysyłamy za 10-13 dni

470.68 zł

This book introduces several novel approaches to pave the way for the next generation of integrated...

Informacje o książce

Autor

Sebastian Huhn

Język

Angielski

Oprawa

Książka - Twarda

Data wydania

2021

strony

188

EAN

9783030692087

ISBN

3030692086

Enbook ID

35705730

Wydawca

Springer Nature Switzerland AG

Waga

453

Wymiary

160 x 241 x 16

Pełny opis

This book introduces several novel approaches to pave the way for the next generation of integrated circuits, which can be successfully and reliably integrated, even in safety-critical applications. The authors describe new measures to address the rising challenges in the field of design for testability, debug, and reliability, as strictly required for state-of-the-art circuit designs. In particular, this book combines formal techniques, such as the Satisfiability (SAT) problem and the Bounded Model Checking (BMC), to address the arising challenges concerning the increase in test data volume, as well as test application time and the required reliability. All methods are discussed in detail and evaluated extensively, while considering industry-relevant benchmark candidates. All measures have been integrated into a common framework, which implements standardized software/hardware interfaces.

Możesz być zainteresowany

Klienci, którzy kupili tę książkę, kupili również

Najczęściej wyszukiwane

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Najczęściej wyszukiwane

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Design for Testability, Debug and Reliability

Informacje o książce

Pełny opis

Możesz być zainteresowany

Klienci, którzy kupili tę książkę, kupili również