Data Mining and Diagnosing IC Fails

Name: Data Mining and Diagnosing IC Fails
Brand: Springer-Verlag New York Inc.
SKU: 9780387249933
Price: 425.21 PLN
Availability: InStock

Autor: Leendert M. Huisman

Język:

Oprawa: Twarda

Wydawca: Springer-Verlag New York Inc.

Dostępność: Dostępna u dostawcy

Wysyłamy za 10-13 dni

425.21 zł

There are many techniques for analyzing IC fails. This book addresses the problem of obtaining maxim...

Informacje o książce

Autor

Leendert M. Huisman

Język

Angielski

Oprawa

Książka - Twarda

Data wydania

2005

strony

250

EAN

9780387249933

ISBN

9780387249933

Enbook ID

07184089

Wydawca

Springer-Verlag New York Inc.

Waga

576

Wymiary

155 x 235 x 19

Pełny opis

There are many techniques for analyzing IC fails. This book addresses the problem of obtaining maximum information from (functional) integrated circuit fail data about the defects that caused the fails. It starts at the highest level from mere sort codes, and drills down via various data mining techniques to detailed logic diagnosis.

Możesz być zainteresowany

Klienci, którzy kupili tę książkę, kupili również

Najczęściej wyszukiwane

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Najczęściej wyszukiwane

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Data Mining and Diagnosing IC Fails

Informacje o książce

Pełny opis

Możesz być zainteresowany

Klienci, którzy kupili tę książkę, kupili również