Crystals, Defects and Microstructures

Name: Crystals, Defects and Microstructures
Brand: Cambridge University Press
SKU: 9780521790055
Price: 1054.16 PLN
Availability: InStock

Modeling Across Scales

Autor: Rob Phillips

Język:

Oprawa: Twarda

Wydawca: Cambridge University Press

Dostępność: Dostępna u dostawcy

Wysyłamy za 9-15 dni

1 054.16 zł

Materials science has emerged as one of the central pillars of the modern physical sciences and engi...

Informacje o książce

Autor

Rob Phillips

Język

Angielski

Oprawa

Książka - Twarda

Data wydania

2001

strony

808

EAN

9780521790055

ISBN

0521790050

Enbook ID

02043340

Wydawca

Cambridge University Press

Waga

1738

Wymiary

170 x 244 x 43

Pełny opis

Materials science has emerged as one of the central pillars of the modern physical sciences and engineering, and is now even beginning to claim a role in the biological sciences. A central tenet in the analysis of materials is the structure-property paradigm, which proposes a direct connection between the geometric structures within a material and its properties. The increasing power of high-speed computation has had a major impact on theoretical materials science and has permitted the systematic examination of this connection between structure and properties. In this graduate textbook, Rob Phillips examines the various methods that have been used in the study of crystals, defects and microstructures and that have made such computations possible. A second key theme is the presentation of recent efforts that have been developed to treat problems involving either multiple spatial or temporal scales simultaneously.

Możesz być zainteresowany

Klienci, którzy kupili tę książkę, kupili również

Najczęściej wyszukiwane

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Najczęściej wyszukiwane

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Crystals, Defects and Microstructures

Modeling Across Scales

Informacje o książce

Pełny opis

Możesz być zainteresowany

Klienci, którzy kupili tę książkę, kupili również