Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques

Name: Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques
Brand: Springer International Publishing AG
SKU: 9783319696720
Price: 429.36 PLN
Availability: InStock

Autor: Selahattin Sayil

Język:

Oprawa: Twarda

Wydawca: Springer International Publishing AG

Dostępność: Dostępna u dostawcy

Wysyłamy za 10-13 dni

429.36 zł

This book provides readers with a comprehensive overview of the state-of-the-art in optical contactl...

Informacje o książce

Autor

Selahattin Sayil

Język

Angielski

Oprawa

Książka - Twarda

Data wydania

2017

strony

EAN

9783319696720

ISBN

3319696726

Enbook ID

18184965

Wydawca

Springer International Publishing AG

Waga

339

Wymiary

155 x 235 x 11

Pełny opis

This book provides readers with a comprehensive overview of the state-of-the-art in optical contactless probing approaches, in order to fill a gap in the literature on VLSI Testing. The author highlights the inherent difficulties encountered with the mechanical probe and testability design approaches for functional and internal fault testing and shows how contactless testing might resolve many of the challenges associated with conventional mechanical wafer testing. The techniques described in this book address the increasing demands for internal access of the logic state of a node within a chip under test.

Możesz być zainteresowany

Klienci, którzy kupili tę książkę, kupili również

Najczęściej wyszukiwane

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Najczęściej wyszukiwane

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques

Informacje o książce

Pełny opis

Możesz być zainteresowany

Klienci, którzy kupili tę książkę, kupili również