Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis

Name: Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis
Brand: Springer-Verlag New York Inc.
SKU: 9781441932990
Price: 640.17 PLN
Availability: InStock

Autor: Alvin W. Czanderna, Theodore E. Madey, Cedric J. Powell

Język:

Oprawa: Miękka

Wydawca: Springer-Verlag New York Inc.

Dostępność: Dostępna u dostawcy

Wysyłamy za 5-8 dni

640.17 zł

Written as a tutorial guide for newcomers to the field of surface analysis, this work is the first b...

Informacje o książce

Autor

Alvin W. Czanderna, Theodore E. Madey, Cedric J. Powell

Język

Angielski

Oprawa

Książka - Miękka

Data wydania

2010

strony

430

EAN

9781441932990

ISBN

1441932992

Enbook ID

01421940

Wydawca

Springer-Verlag New York Inc.

Waga

1390

Wymiary

152 x 229 x 25

Pełny opis

Written as a tutorial guide for newcomers to the field of surface analysis, this work is the first book ever published to feature photon, electron, and ion beam effects and beam damage to solids during surface and near-surface analysis and depth profiling. This introductory text describes the principles, techniques, and methods vital for efficient surface analysis. A wealth of practical information is assembled in this single volume, including summary tables, extensive references, and 251 illustrative figures.

Możesz być zainteresowany

Klienci, którzy kupili tę książkę, kupili również

Najczęściej wyszukiwane

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Najczęściej wyszukiwane

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis

Informacje o książce

Pełny opis

Możesz być zainteresowany

Klienci, którzy kupili tę książkę, kupili również