Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si3N4 Interfaces

Name: Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si3N4 Interfaces
Brand: Springer-Verlag New York Inc.
SKU: 9781461428572
Price: 482.75 PLN
Availability: InStock

Autor: Weronika Walkosz

Język:

Oprawa: Miękka

Wydawca: Springer-Verlag New York Inc.

Dostępność: Dostępna u dostawcy w małych ilościach

Wysyłamy za 13-18 dni

482.75 zł

This book offers results that influence many high temperature and pressure applications. It provides...

Informacje o książce

Autor

Weronika Walkosz

Język

Angielski

Oprawa

Książka - Miękka

Data wydania

2013

strony

110

EAN

9781461428572

ISBN

1461428572

Enbook ID

01427604

Wydawca

Springer-Verlag New York Inc.

Waga

203

Wymiary

155 x 235 x 8

Pełny opis

This book offers results that influence many high temperature and pressure applications. It provides findings that will offer increased control over the performance of ceramic and semiconductor materials for a wide-range of applications.

Możesz być zainteresowany

Klienci, którzy kupili tę książkę, kupili również

Najczęściej wyszukiwane

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Najczęściej wyszukiwane

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si3N4 Interfaces

Informacje o książce

Pełny opis

Możesz być zainteresowany

Klienci, którzy kupili tę książkę, kupili również