Atomic Force Microscopy - Understanding Basic Modes and Advanced Applications

Name: Atomic Force Microscopy - Understanding Basic Modes and Advanced Applications
Brand: John Wiley & Sons Inc
SKU: 9780470638828
Price: 666.69 PLN
Availability: InStock

Autor: Greg Haugstad

Język:

Oprawa: Twarda

Wydawca: John Wiley & Sons Inc

Dostępność: Dostępna u dostawcy

Wysyłamy za 9-15 dni

666.69 zł

This book enlightens readers on the basic surface properties and distance-dependent intersurface for...

Informacje o książce

Autor

Greg Haugstad

Język

Angielski

Oprawa

Książka - Twarda

Data wydania

2012

strony

496

EAN

9780470638828

ISBN

0470638826

Enbook ID

01388618

Wydawca

John Wiley & Sons Inc

Waga

850

Wymiary

155 x 243 x 32

Pełny opis

This book enlightens readers on the basic surface properties and distance-dependent intersurface forces one must understand to obtain even simple data from an atomic force microscope (AFM). The material becomes progressively more complex throughout the book, explaining details of calibration, physical origin of artifacts, and signal/noise limitations. Coverage spans imaging, materials property characterization, in-liquid interfacial analysis, tribology, and electromagnetic interactions.§"Supplementary material for this book can be found by entering ISBN 9780470638828 on booksupport.wiley.com"

Możesz być zainteresowany

Klienci, którzy kupili tę książkę, kupili również

Najczęściej wyszukiwane

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Najczęściej wyszukiwane

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Atomic Force Microscopy - Understanding Basic Modes and Advanced Applications

Informacje o książce

Pełny opis

Możesz być zainteresowany

Klienci, którzy kupili tę książkę, kupili również