Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 3

Name: Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 3
Brand: Springer-Verlag New York Inc.
SKU: 9781475781847
Price: 639.04 PLN
Availability: InStock

Autor: Samuel H. Cohen, Marcia L. Lightbody

Język:

Oprawa: Miękka

Wydawca: Springer-Verlag New York Inc.

Dostępność: Dostępna u dostawcy

Wysyłamy za 5-8 dni

639.04 zł

This proceedings is based on the third Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy symposi...

Informacje o książce

Autor

Samuel H. Cohen, Marcia L. Lightbody

Język

Angielski

Oprawa

Książka - Miękka

Data wydania

2013

strony

210

EAN

9781475781847

ISBN

1475781849

Enbook ID

02254200

Wydawca

Springer-Verlag New York Inc.

Waga

426

Wymiary

178 x 254 x 13

Pełny opis

This proceedings is based on the third Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy symposium. The purpose of the meeting was to provide an interface between scientists, engineers, representatives of industry, government, and academia, all of whom have a common interest in probe microscopies. The papers have been written by experts in probe microscopy from around the world, representing a wide range of disciplines, including physics, biotechnology, nanotechnology, chemistry, and materials science.

Możesz być zainteresowany

Klienci, którzy kupili tę książkę, kupili również

Najczęściej wyszukiwane

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Najczęściej wyszukiwane

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 3

Informacje o książce

Pełny opis

Możesz być zainteresowany

Klienci, którzy kupili tę książkę, kupili również