Applied Scanning Probe Methods III

Name: Applied Scanning Probe Methods III
Brand: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG
SKU: 9783540269090
Price: 626.2 PLN
Availability: InStock

Characterization

Autor: Bharat Bhushan, Harald Fuchs

Język:

Oprawa: Twarda

Wydawca: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG

Dostępność: Dostępna u dostawcy

Wysyłamy za 10-13 dni

626.20 zł

Volumes II, III and IV examine the physical and technical foundation for recent progress in applied...

Informacje o książce

Autor

Bharat Bhushan, Harald Fuchs

Język

Angielski

Oprawa

Książka - Twarda

Data wydania

2006

strony

378

EAN

9783540269090

ISBN

3540269096

Enbook ID

01560828

Wydawca

Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG

Waga

716

Wymiary

166 x 243 x 21

Pełny opis

Volumes II, III and IV examine the physical and technical foundation for recent progress in applied near-field scanning probe techniques, and build upon the first volume published in early 2004. The field is progressing so fast that there is a need for a second set of volumes to capture the latest developments. It constitutes a timely comprehensive overview of SPM applications, now that industrial applications span topographic and dynamical surface studies of thin-film semiconductors, polymers, paper, ceramics, and magnetic and biological materials. Volume II introduces scanning probe microscopy, including sensor technology, Volume III covers the whole range of characterization possibilities using SPM and Volume IV offers chapters on uses in various industrial applications. The international perspective offered in these three volumes - which belong together - contributes further to the evolution of SPM techniques.

Możesz być zainteresowany

Klienci, którzy kupili tę książkę, kupili również

Najczęściej wyszukiwane

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Najczęściej wyszukiwane

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Applied Scanning Probe Methods III

Characterization

Informacje o książce

Pełny opis

Możesz być zainteresowany

Klienci, którzy kupili tę książkę, kupili również