Advances in Scanning Probe Microscopy

Name: Advances in Scanning Probe Microscopy
Brand: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG
SKU: 9783540667186
Price: 424.53 PLN
Availability: InStock

Autor: T. Sakurai, Y. Watanabe

Język:

Oprawa: Twarda

Wydawca: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG

Dostępność: Dostępna u dostawcy

Wysyłamy za 10-13 dni

424.53 zł

Covers several important topics in the field of scanning probe microscopy. These include a realistic...

Informacje o książce

Autor

T. Sakurai, Y. Watanabe

Język

Angielski

Oprawa

Książka - Twarda

Data wydania

2000

strony

343

EAN

9783540667186

ISBN

9783540667186

Enbook ID

08908922

Wydawca

Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG

Waga

705

Wymiary

155 x 235 x 24

Pełny opis

Covers several important topics in the field of scanning probe microscopy. These include a realistic theory of atom-resolving atomic force microscopy (AFM), fundamentals of MBE growth of III-V compound semiconductors, and more. This book is of interest to those involved in using scanning probe microscopy.

Możesz być zainteresowany

Klienci, którzy kupili tę książkę, kupili również

Najczęściej wyszukiwane

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Najczęściej wyszukiwane

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Advances in Scanning Probe Microscopy

Informacje o książce

Pełny opis

Możesz być zainteresowany

Klienci, którzy kupili tę książkę, kupili również