Advanced Test Methods for SRAMs

Name: Advanced Test Methods for SRAMs
Brand: Springer-Verlag New York Inc.
SKU: 9781489983145
Price: 425.91 PLN
Availability: InStock

Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies

Autor: Girard, Patrick, PH.

Język:

Oprawa: Miękka

Wydawca: Springer-Verlag New York Inc.

Dostępność: Dostępna u dostawcy

Wysyłamy za 5-8 dni

425.91 zł

Valuable testing and diagnostic methods for the latest generation of static random access memory (SR...

Informacje o książce

Autor

Girard, Patrick, PH.

Język

Angielski

Oprawa

Książka - Miękka

Data wydania

2014

strony

171

EAN

9781489983145

ISBN

9781489983145

Enbook ID

09062252

Wydawca

Springer-Verlag New York Inc.

Waga

297

Wymiary

155 x 235 x 235

Pełny opis

Valuable testing and diagnostic methods for the latest generation of static random access memory (SRAM), are presented in this comprehensive guide. New fault models are required for the latest very deep sub-micron (VDSM) technologies, and are outlined here.§

Możesz być zainteresowany

Klienci, którzy kupili tę książkę, kupili również

Najczęściej wyszukiwane

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Najczęściej wyszukiwane

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Advanced Test Methods for SRAMs

Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies

Informacje o książce

Pełny opis

Możesz być zainteresowany

Klienci, którzy kupili tę książkę, kupili również