Książka Advanced nanoscale characterization concepts for copper interconnection technologies BERTHOLD

Advanced nanoscale characterization concepts for copper interconnection technologies

Autor: BERTHOLD, TOBIAS
Język: Angielski
Oprawa: Książka
Dostępność: 50 % szansa
Przeszukamy cały świat
32.96

Informacje o książce

Autor
Język
Angielski
Oprawa
Książka - Książka
Data wydania
2017
strony
200
EAN
9788449072864
Enbook ID
36016392

Pełny opis

Możesz być zainteresowany

854.87

Shin Ju Ryu Kenpo Ju-Jutsu

Edward Hartzell-Tenth Dan-Soke
65.63

Wild Walking

Choukas-Bradley
44.27
115.72

World Report 2021

Human Rights Watch
109.72
176.73

Come Back, Bear

Gerald Locklin
50.47

Imprudence

Gail Carriger
87.97
237.06

All the Conspirators

Carlos Bulosan
96.82
56.48

Life for Dreams

Vera Stanek
100.66

Modern Method for Guitar

Hal Leonard Publishing Corporation
64.55

Klienci, którzy kupili tę książkę, kupili również

Eisenbahn-Hochbauten

Carl Cornelius
320.21
27.45
28.14

Handschlag mit dem Teufel

Andreas S dos Santos
141.21
35.91
42.90

D'Sax'

Marcus Sakey
45.65