Advanced Materials Characterization

Name: Advanced Materials Characterization
Brand: Taylor & Francis Ltd
SKU: 9781032375113
Price: 293.53 PLN
Availability: InStock

Autor: M. Muralidhar Singh, Ram Krishna

Język:

Oprawa: Miękka

Wydawca: Taylor & Francis Ltd

Dostępność: Dostępna u dostawcy

Wysyłamy za 14-21 dni

293.53 zł

The book covers various methods of characterization of advanced materials commonly used in engineeri...

Informacje o książce

Autor

M. Muralidhar Singh, Ram Krishna

Język

Angielski

Oprawa

Książka - Miękka

Data wydania

2024

strony

130

EAN

9781032375113

ISBN

1032375116

Enbook ID

46681024

Wydawca

Taylor & Francis Ltd

Waga

238

Wymiary

156 x 234

Pełny opis

The book covers various methods of characterization of advanced materials commonly used in engineering including understanding of the working principle and applicability of devices. Major instruments covered include X-Ray Diffraction, NSOM Raman, X-Ray Photo Spectroscopy, UV-VIS- NIR Spectrosphotometer, FTIR Spectroscopy, and so forth.

Możesz być zainteresowany

Klienci, którzy kupili tę książkę, kupili również

Najczęściej wyszukiwane

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Najczęściej wyszukiwane

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Advanced Materials Characterization

Informacje o książce

Pełny opis

Możesz być zainteresowany

Klienci, którzy kupili tę książkę, kupili również