Aberration-Corrected Analytical Electron Microscopy

Name: Aberration-Corrected Analytical Electron Microscopy
Brand: John Wiley & Sons Inc
SKU: 9780470518519
Price: 283.73 PLN
Availability: InStock

Autor: Rik Brydson

Język:

Oprawa: Twarda

Wydawca: John Wiley & Sons Inc

Dostępność: Dostępna u dostawcy

Wysyłamy za 9-15 dni

283.73 zł

The book is concerned with the theory, background, and practical use of transmission electron micros...

Informacje o książce

Autor

Rik Brydson

Język

Angielski

Oprawa

Książka - Twarda

Data wydania

2011

strony

296

EAN

9780470518519

ISBN

0470518510

Enbook ID

01388456

Wydawca

John Wiley & Sons Inc

Waga

580

Wymiary

164 x 240 x 20

Pełny opis

The book is concerned with the theory, background, and practical use of transmission electron microscopes with lens correctors that can correct the effects of spherical aberration. The book also covers a comparison with aberration correction in the TEM and applications of analytical aberration corrected STEM in materials science and biology. This book is essential for microscopists involved in nanoscale and materials microanalysis especially those using scanning transmission electron microscopy, and related analytical techniques such as electron diffraction x-ray spectrometry (EDXS) and electron energy loss spectroscopy (EELS).

Możesz być zainteresowany

Klienci, którzy kupili tę książkę, kupili również

Najczęściej wyszukiwane

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Najczęściej wyszukiwane

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Aberration-Corrected Analytical Electron Microscopy

Informacje o książce

Pełny opis

Możesz być zainteresowany

Klienci, którzy kupili tę książkę, kupili również